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El análisis de trazas nos permite detectar impurezas en concentraciones muy bajas, y puede tener una función crucial en el procedimiento de control de calidad. Es importante en la fabricación de dispositivos semiconductores, porque las trazas de contaminación pueden limitar el rendimiento o incluso impedir el funcionamiento.

El análisis de trazas de SGS ofrece un servicio especializado de confianza como parte fundamental de la fabricación de su control de calidad. Nuestra plantilla de expertos trabaja con equipos de alto rendimiento para detectar trazas de impurezas capaces de provocar un mal funcionamiento o de reducir la fiabilidad de su producto. Realizamos los procedimientos de ensayo de alta sensibilidad utilzando:

  • espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS): identifica impurezas en concentraciones muy bajas 
  • SIMS de tiempo de vuelo (ToF-SIMS): detecta impurezas de la superficie
  • espectroscopía de masas por plasma acoplado inductivamente (ICPMS), apoyada por descomposición en fase de vapor (VPD) o por el método de extracción por paquetes (PEM), muy sensible a una amplia gama de elementos

Contacte con SGS para averiguar cómo nuestro análisis de trazas mejora la calidad y la fiabilidad de sus productos.